掃描電鏡在材料分析和研究中應(yīng)用十分廣泛，主要應(yīng)用于材料表面形貌分析，微區(qū)成分分析。華南師范大學(xué)的化學(xué)與環(huán)境學(xué)院的研究領(lǐng)域包含金屬、高分子和無機材料，所以，有大量樣品需要利用掃描電鏡進行形貌和微區(qū)成分分析。
飛納臺式掃描電鏡可以對多種樣品進行快速分析，并具有*的優(yōu)勢。飛納電鏡背散射探頭成像效果比較出色，對金相樣品的微區(qū)組織形貌成像效果較好。由于高分子材料不具有導(dǎo)電性，容易在電鏡真空環(huán)境中充電，從而影響成像效果，所以，飛納電鏡獨體的真空分級設(shè)計，可以同時保證燈絲區(qū)域高真空和保持樣品區(qū)域處于低真空，因此可以直接對不導(dǎo)電的高分子材料進行觀察。
在掃描電鏡對無機材料進行微區(qū)分析中，常常使用能譜進行元素的定性半定量分析。飛納電鏡能譜一體機Phenom Pro X型號內(nèi)置有能譜探頭，在獲得樣品形貌的同時，也可對相應(yīng)微區(qū)進行元素分析。
飛納電鏡觀察高分子材料表面
用戶使用能譜對材料進行元素分析
用戶認真學(xué)習(xí)電鏡操作
飛納臺式電鏡操作簡單，可以對多種樣品進行形貌和微區(qū)成分分析，簡單的操作就能得到良好的效果，成像速度快，短時間就能完成大量樣品測試。
傳真：
地址：上海市閔行區(qū)虹橋鎮(zhèn)申濱路 88 號上海虹橋麗寶廣場 T5，705 室
版權(quán)所有 © 2018 復(fù)納科學(xué)儀器（上海）有限公司 備案號：滬ICP備12015467號-2 管理登陸 技術(shù)支持：化工儀器網(wǎng) GoogleSitemap
