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掃描電鏡（SEM）是一種用途廣泛的科學儀器，它可以根據(jù)用戶的需求提供樣品不同類型的信息。在這里我們將闡述在掃描電鏡（SEM）中產(chǎn)生的不同類型的電子，它們是如何被檢測出來的，以及它們可以提供的信息等。

電子顯微鏡是通過電子束來成像的。在圖1中，您可以看到電子與物質(zhì)相互作用所產(chǎn)生的各種信號，所有這些不同類型的信號攜帶著關于樣品的不同的有用信息，由電子顯微鏡的操作人員根據(jù)需要選擇接收的信號。

例如在透射電鏡（TEM）中，正如它的名字所示，檢測到的信號是透過樣品的電子，會提供樣品內(nèi)部結構的信息。在掃描電鏡（SEM）下，通常需要檢測兩種類型的信號：背散射電子（BSE）和二次電子（SE）。

圖1：電子與物質(zhì)相互作用區(qū)域，產(chǎn)生不同類型的信號

背散射電子的成像（BSE）

這種類型的電子來源于相互作用體積內(nèi)的一個寬廣區(qū)域。它們是入射電子與物質(zhì)原*彈性碰撞的結果，這導致了入射電子軌道的變化。可以把入射電子與物質(zhì)原子碰撞看作是所謂的“臺球”模型，小粒子（入射電子）與較大的粒子（原子）相撞。較重的原子比輕原子更容易散射電子，從而產(chǎn)生更強的信號（圖2），因此背散射電子到達探測器的數(shù)量與物質(zhì)的原子序數(shù)成正比。這種背散射電子（BSE）數(shù)量對原子序數(shù)的依賴幫助我們區(qū)分不同的成分區(qū)域，提供了樣本成分組成信息的成像。此外，BSE圖像還可以提供關于樣品晶相、形貌和磁場等有價值的信息。

圖2：a）鋁/ 銅樣品的SEM圖像，b），c）電子束與鋁和銅相互作用的簡化圖解。銅原子（更高的原子序數(shù)）與較輕的鋁原子相比，將更多的入射電子散射到探測器上，因此在SEM圖像中看起來更亮。

zui常見的BSE探測器是包含p-n結的固態(tài)探測器，其工作原理是利用逸出樣品后被探測器吸收的背散射電子產(chǎn)生的電子空穴對為基礎。這些電子空穴對的數(shù)量取決于背散射電子的能量。p- n結連接到兩個電極上，其中一個電極吸引電子，另一個吸引空穴從而產(chǎn)生電流，電流大小取決于所吸收的背散射電子的數(shù)量。

BSE檢測器位于樣品上方，與入射電子束形成“甜甜圈”排列，它們由對稱分離的部分組成，以便zui大限度地收集背散射電子。當所有的部分都被啟用時，圖像的對比度描繪了樣品的原子序數(shù)信息。通過只啟用探測器的特定象限，圖像反應樣品的形貌信息。

圖3：背散射電子探測器和二次電子探測器的位置。

二次電子

相反，二次電子來源于樣品表面和接近表面的區(qū)域。它們是入射電子束與樣品之間非彈性散射的結果，其能量比背散射電子低。二次電子對于樣品表面的細節(jié)反映非常有用，如圖4所示：

圖4：葉子的成像：a）背散射成分像（BSD） b）背散射形貌像（BSD） c）二次電子像

E-T型探測器是zui常用的二次電子探測器。它由一個法拉第籠內(nèi)的閃爍體組成，它帶正電可以吸引二次電子。之后閃爍體加速電子并將它們轉(zhuǎn)換成光，然后到達光電倍增管進行放大，二次電子檢測器以一定的角度被放置在樣品室的一側(cè)，有助于提高二次電子的檢測效率。

這兩類電子是掃描電鏡（SEM）用戶zui常用的成像信號。并非所有的SEM用戶都只需要一種類型的信息，因此擁有多個探測器的表征功能使SEM成為一種通用的工具，可以為許多不同的應用提供有價值的解決方案。